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一、一般电容故障现象：电容开路、击穿、漏电、通电后击穿

故障原因

1、元器件开路

电容器开路后，没有电容器的作用。不同电路中的电容器出现开路故障后，电路的具体故障现象不同。如滤波电容开路后出现交流声，耦合电容开路后无声等。

2、元器件击穿

电容器击穿后，失去电容器的作用，电容器两根引脚之间为通路，电容器的隔直作用消失，电路的直流电路出现故障，从而影响交流工作状态。

3、元器件漏电

电容器漏电时，导致电容器两极板之间绝缘性能下降，两极板之间存在漏电阻，有直流电流通过电容器，电容器的隔直性能变差，电容器的容量下降。当耦合电容器漏电时，将造成电路噪声大。这是小电容器中故障发生率比较高的故障，而且故障检测困难。

4、通电后击穿

电容器加上工作电压后击穿，断电后它又表现为不击穿，万用表检测时它不表现击穿的特征，通电情况下测量电容两端的直流电压为零或者很低，电容性能变坏。

　　为了能从显示屏上看到电容器的充电过程，对不同容量的电容器应选择不同的电阻档位。伴随着电流增大而来的降低ESR的要求，有可能成为推进电容替换进程的主要原因。选择电阻档的原则是：电容器较大时，应选用低阻档；电容器容量较小时，应选用高阻档。如果用低阻档检查小容量电容器，由于充电时间很短，会一直显示溢出，看不到变化过程，从而很容易误判为电容器已开路。如果用高阻档检查大容量电容器，由于充电过程很缓慢，测量时间需要较和长。对于0.1~1000uF以上的电容器可按下表选择电阻档（表中的充电时间指显示档从000变化到溢出所需的时间）。

　　测量电容器时对电阻档的选择，电阻档（Ω）被测电容器范围（uF）充电时间（S20M0.1~12~122M1~102~18200K10~1003~2020K100~10003~132K＞1000＞3电容器击穿或开路后，不能修理，只能更换同型号的新电容器。幸运的是，热阻这个因素可以通过电路上的精心设计而降低，这样电容器的纹波电流承受能力就会相应提高。为便于修理时选用，下表列出电容器的容量与压缩机电动机输出功率的选配，供参考。电容器容量与压缩机电动机输出功率的选配压缩机电动机输出功率0.2、0.4、0.75、1.0、1.5、2.0、2.2、3.0、3.7、4.0、5.0; 电容器容量（uF）15、20、30、30、40、50、50、50、75、75、100。

抑制和耦合

（1）信号耦合

由于电容器通过交流电而阻隔直流信号，它们通常用于分离信号的交流和直流分量。该方法称为AC耦合或“电容耦合”。

（2）去耦

去耦电容器是用于保护电路的一部分免受另一电路的影响的电容器，例如抑制噪声或瞬变。由其他电路元件引起的噪声通过电容器分流，减少了对电路的其余部件的影响。

（3）噪声抑制，尖峰脉冲和缓冲器

当感应电路打开时，通过电感的电流会迅速塌陷，在开关或继电器的开路上产生大的电压。在切断电源并对电容器放电后，***行外部检查，如套管的外部有无闪络痕迹、外壳是否变形、漏油及接地装置有无短路等，然后用绝缘摇表摇测极间及极对地的绝缘电阻值。如果电感足够大，则能量可能产生火花，导致接触点氧化。新打开的电路上的缓冲电容器为这种脉冲绕过接触点创造了一条路径，从而保持了其寿命。缓冲电容器通常与串联的低电阻一起使用。这种电阻器、电容器组合可在单个封装中使用。

电解电容器性能要求

小体积、大容量

由于电解电容器阳极为腐蚀多孔的阀金属且表面生成一层极薄的介质氧化膜，多数采用卷绕结构，很容易扩大体积，因此单位体积电容量非常大，比其它电容大几倍到几十倍。这说明纹波电流的额定值与温度有关，由前面的分析及公式[1]和[2]得知，如果仍然限定***1大允许温升为10℃，Pmax基本不变，那么纹波电流额定值就只与ESR有关。但是大电容量的获取是以体积的扩大为代价的，现代1开关电源要求越来越高的效率，越来越小的体积，因此，有必要寻求新的解决办法，来获得大电容量、小体积的电容器。

在开关电源的原边一旦采用有源滤波器电路，则铝电解电容器的使用环境变得比以前更为严酷：

（1）高频脉冲电流主要是20 kHz~100kHz的脉动电流，而且大幅度增加；

（2）变换器的主开关管发热，导致铝电解电容器的周围温度升高；

（3）变换器多采用升压电路，因此要求耐高压的铝电解电容器。

这样一来，利用以往技术制造的铝电解电容器，由于要吸收比以往更大的脉动电流，不得不选择大尺寸的电容器。b）充满有害气体的环境（硫化物、h2so3、hno2、cl2、氨水等）。结果，使电源的体积庞大，难以用于小型化的电子设备。为了解决这些难题，必须研究与开发一种新型的电解电容器，体积小、耐高压，并且允许流过大量高频脉冲电流。另外，这种电解电容器，在高温环境下工作，工作寿命还须比较长。